Повышение чувствительности регистрирующих материалов к жесткому излучению и снижение времени их экспозиции в рентгенодефектоскопическом контроле...

за авторством Михайлов, О.В., Терехов, П.В., Кондаков, А.В., Муратов, Д.Ш., Хабибуллин, А.С.
Опубліковано 2004