Неразрушающий метод измерения глубины залегания p-n-перехода полупроводниковых фотоэлектрических структур...

by Алиев, Р., Мухтаров, Э., Олимов, Л.
Published in Физическая инженерия поверхности (2010)

Влияние атомов щелочных металлов на фотоэлектрические свойства поликристаллических кремниевых солнечных элементов...

by Олимов, Л.О., Абдурахманов, Б.М., Омонобоев, Ф.Л., Юсупов, А.Х., Сохибова, З.М.
Published in Журнал физики и инженерии поверхности (2016)