Влияние нарушенного поверхностного слоя на динамическое рассеяние в кристаллах с дефектами

von Шпак, А.П., Молодкин, В.Б., Низкова, А.И., Когут, М.Т., Первак, Е.В.
Veröffentlicht 2004

Интегральная многопараметрическая дифрактометрия наносистем на основе эффектов многократности диффузного рассеяния...

von Шпак, А.П., Ковальчук, М.В., Молодкин, В.Б., Носик, В.Л., Дмитриев, С.В., Лень, Е.Г., Олиховский, С.И., Низкова, А.И., Молодкин, В.В., Первак, Е.В., Катасонов, А.А., Ниничук, Л.И., Мельник, А.В.
Veröffentlicht 2009

Физические основы многопараметрической кристаллографии: диагностика дефектов нескольких типов в монокристаллических материалах и изделиях нанотехнологий...

von Молодкин, В.Б., Ковальчук, М.В., Мачулин, В.Ф., Мухамеджанов, Э.Х., Лизунова, С.В., Олиховский, С.И., Лень, Е.Г., Шелудченко, Б.В., Дмитриев, С.В., Скакунова, Е.С., Молодкин, В.В., Лизунов, В.В., Кладько, В.П., Первак, Е.В.
Veröffentlicht 2011