Влияние нарушенного поверхностного слоя на динамическое рассеяние в кристаллах с дефектами von Шпак, А.П., Молодкин, В.Б., Низкова, А.И., Когут, М.Т., Первак, Е.В.

Volltext

Интегральная многопараметрическая дифрактометрия наносистем на основе эффектов многократности диффузного рассеяния... von Шпак, А.П., Ковальчук, М.В., Молодкин, В.Б., Носик, В.Л., Дмитриев, С.В., Лень, Е.Г., Олиховский, С.И., Низкова, А.И., Молодкин, В.В., Первак, Е.В., Катасонов, А.А., Ниничук, Л.И., Мельник, А.В.

Volltext

Физические основы многопараметрической кристаллографии: диагностика дефектов нескольких типов в монокристаллических материалах и изделиях нанотехнологий... von Молодкин, В.Б., Ковальчук, М.В., Мачулин, В.Ф., Мухамеджанов, Э.Х., Лизунова, С.В., Олиховский, С.И., Лень, Е.Г., Шелудченко, Б.В., Дмитриев, С.В., Скакунова, Е.С., Молодкин, В.В., Лизунов, В.В., Кладько, В.П., Первак, Е.В.

Volltext