Влияние нарушенного поверхностного слоя на динамическое рассеяние в кристаллах с дефектами за авторством Шпак, А.П., Молодкин, В.Б., Низкова, А.И., Когут, М.Т., Первак, Е.В.

Отримати повний текст

Интегральная многопараметрическая дифрактометрия наносистем на основе эффектов многократности диффузного рассеяния... за авторством Шпак, А.П., Ковальчук, М.В., Молодкин, В.Б., Носик, В.Л., Дмитриев, С.В., Лень, Е.Г., Олиховский, С.И., Низкова, А.И., Молодкин, В.В., Первак, Е.В., Катасонов, А.А., Ниничук, Л.И., Мельник, А.В.

Отримати повний текст

Физические основы многопараметрической кристаллографии: диагностика дефектов нескольких типов в монокристаллических материалах и изделиях нанотехнологий... за авторством Молодкин, В.Б., Ковальчук, М.В., Мачулин, В.Ф., Мухамеджанов, Э.Х., Лизунова, С.В., Олиховский, С.И., Лень, Е.Г., Шелудченко, Б.В., Дмитриев, С.В., Скакунова, Е.С., Молодкин, В.В., Лизунов, В.В., Кладько, В.П., Первак, Е.В.

Отримати повний текст