Влияние нарушенного поверхностного слоя на динамическое рассеяние в кристаллах с дефектами

by Шпак, А.П., Молодкин, В.Б., Низкова, А.И., Когут, М.Т., Первак, Е.В.
Published 2004

Интегральная многопараметрическая дифрактометрия наносистем на основе эффектов многократности диффузного рассеяния...

by Шпак, А.П., Ковальчук, М.В., Молодкин, В.Б., Носик, В.Л., Дмитриев, С.В., Лень, Е.Г., Олиховский, С.И., Низкова, А.И., Молодкин, В.В., Первак, Е.В., Катасонов, А.А., Ниничук, Л.И., Мельник, А.В.
Published 2009

Физические основы многопараметрической кристаллографии: диагностика дефектов нескольких типов в монокристаллических материалах и изделиях нанотехнологий...

by Молодкин, В.Б., Ковальчук, М.В., Мачулин, В.Ф., Мухамеджанов, Э.Х., Лизунова, С.В., Олиховский, С.И., Лень, Е.Г., Шелудченко, Б.В., Дмитриев, С.В., Скакунова, Е.С., Молодкин, В.В., Лизунов, В.В., Кладько, В.П., Первак, Е.В.
Published 2011