Способ повышения надёжности светодиодных матриц

за авторством Позний, А.П., Поканевич, А.П.
Опубліковано 2008

СПОСІБ ПІДВИЩЕННЯ НАДІЙНОСТІ СВІТЛОДІОДНИХ МАТРИЦЬ

за авторством Позний, А. П., Поканевич, А. П.
Опубліковано 2013

Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники

за авторством Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П.
Опубліковано 2008

Влияние облучения кремния низкоэнергетическими ионами аргона на образование в нем электрически активных дефектов...

за авторством Попов, В.М., Шустов, Ю.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П.
Опубліковано 2009

Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур...

за авторством Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П., Шустов, Ю.М.
Опубліковано 2010

Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы...

за авторством Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П., Самотовка, В.Л.
Опубліковано 2011

Локальные свойства электрически активных дефектов в солнечных батареях на основе кремния

за авторством Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П., Шустов, Ю.М., Гаврилюк, И.И., Панин, А.И.
Опубліковано 2010

Фотодиод ультрафиолетового диапазона на основе селенида цинка

за авторством Перевертайло, В.Л., Добровольский, Ю.Г., Попов, В.М., Поканевич, А.П., Мацкевич, В.М., Рыжиков, В.Д., Шабашкевич, Б.Г., Юрьев, В.Г.
Опубліковано 2010