Проектирование многозондовых устройств для тестирования электронных компонентов с шариковыми выводами...

von Невлюдов, И.Ш., Палагин, В.А., Разумов-Фризюк, Е.А., Жарикова, И.В.
Veröffentlicht 2016

Подключающее МЭМС-устройство для контроля BGA-компонентов

von Невлюдов, И.Ш., Мартыняк, Р.М., Палагин, В.А., Слободян, Б.С., Разумов-Фризюк, Е.А., Жарикова, И.В., Дмитрив, М.И., Беляев, А.С.
Veröffentlicht 2012