Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів... von Фодчук, І.М., Борча, М.Д., Хоменко, В.Ю., Баловсяк, С.В., Ткач, В.М., Стаценко, О.О.

Volltext