Дослідження систем нанокластерів Si та Ge на поверхні SiOx/Si, одержаних методом молекулярно-променевої епітаксії...

von Козирев, Ю.М., Картель, М.Т., Рубежанська, М.Ю., Скляр, В.К., Дмитрук, Н.В., Тайхерт, К., Хофер, К.
Veröffentlicht 2010