Исследование поведения профилей залегания имплантированных ионов Ti⁺ в наноструктурной пленке Nb в зависимости от угла падения ионов при низкотемпературном облучении. Компьютерное...

von Павленко, В.И., Слепцов, С.Н., Ферлий, Л.А., Чалый, С.О.
Veröffentlicht 2014

Покрытия Me-Cr-Al-Y, полученные атомно-ионным распылением (АИР) в условиях электродуговой и высокочастотной ионизации...

von Картмазов, Г.Н., Поляков, Ю.И., Слепцов, С.Н., Лукирский, Ю.В., Щербак, С.П., Чалый, С.О.
Veröffentlicht 2011