Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур... за авторством Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П., Шустов, Ю.М.

Отримати повний текст

Влияние облучения кремния низкоэнергетическими ионами аргона на образование в нем электрически активных дефектов... за авторством Попов, В.М., Шустов, Ю.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П.

Отримати повний текст

Локальные свойства электрически активных дефектов в солнечных батареях на основе кремния за авторством Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П., Шустов, Ю.М., Гаврилюк, И.И., Панин, А.И.

Отримати повний текст