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Influence of ultrasound treatment and dynamic (in-situ) ultrasound loading on the temperature hysteresis of electrophysical characteristics in irradiated n-Si–Fz von Babych, V.М., Olikh, Ja.М., Tymochko, M.D.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2009)Volltext
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