Результати пошуку - Bak-Misiuk, J.
- Показ 1 - 4 результатів із 4
-
1
Defect structure of Czochralski silicon co-implanted with helium and hydrogen and treated at high temperature - pressure за авторством Wierzchowski, W., Misiuk, A., Wieteska, K., Bak-Misiuk, J., Jung, W., Shalimov, A., Graeff, W., Prujszczyk, M.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2005)Отримати повний текст
Стаття -
2
Ferromagnetic nanoclusters in Si:Mn and GaMnAs annealed at high temperature–pressure за авторством Bak-Misiuk, J., Romanowski, P., Domagala, J., Misiuk, A., Dynowska, E., Lusakowska, E., Barcz, A., Sadowski, J., Caliebe, W.
Опубліковано 2009Отримати повний текст
Стаття -
3
Pressure-induced structural transformations in Si:V and Si:V, Mn за авторством Misiuk, A., Barcz, A., Chow, L., Bak-Misiuk, J., Romanowski, P., Shalimov, A., Wnuk, A., Surma, B., Vanfleet, R., Prujszczyk, M.
Опубліковано в: Физика и техника высоких давлений (2008)Отримати повний текст
Стаття -
4
Structure perfection variations of Si crystals grown by Czochralski or floating zone methods after implantation of oxygen or neon atoms followed by annealing за авторством Datsenko, L.I., Auleytner, J., Misiuk, A., Klad'ko, V.P., Machulin, V.F., Bak-Misiuk, J., Zymierska, D., Antonova, I.V., Melnyk, V.M., Popov, V.P., Czosnyka, T., Choinski, J.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1999)Отримати повний текст
Стаття