Результати пошуку - Baranov, V.V.
- Показ 1 - 7 результатів із 7
-
1
Charge state of the activator in Ti:sapphire crystals grown by HDC method за авторством Sidelnikova, N.S., Nizhankovskyi, S.V., Baranov, V.V.
Опубліковано в: Functional Materials (2015)Отримати повний текст
Стаття -
2
Influence of crystal growth conditions and carbothermal treatment on activator charge state in Ti:sapphire за авторством Nizhankovskiy, S.V., Sidelnikova, N.S., Baranov, V.V.
Опубліковано в: Functional Materials (2018)Отримати повний текст
Стаття -
3
Тонкопленочные элементы кремниевых диодов Шоттки для высокотемпературного микромонтажа за авторством Baranov, V. V., Solovyev, Ya. A., Koshkarov, G. V.
Опубліковано 2007Отримати повний текст
Стаття -
4
Optimization of temperature conditions for the growth of large-size sapphire crystals by the method of horizontally directed crystallization за авторством Grin, L.A., Budnikov, A.T., Sidelnikova, N.S., Adonkin, G.T., Baranov, V.V.
Опубліковано в: Functional Materials (2013)Отримати повний текст
Стаття -
5
Методы и средства компьютерного проектирования в сети Интернет за авторством Baranov, V. V., Breczko, T., Najbuk, M. N., Nelaev, V. V., Stempitski, V. R.
Опубліковано 2008Отримати повний текст
Стаття -
6
Influence of melt convection on the dynamics and capture inclusions for growing oxide crystals by HDC за авторством Naydenov, S.V., Nizhankovskiy, S.V., Tan′ko, A.V., Grin′, L.A., Baranov, V.V.
Опубліковано в: Functional Materials (2015)Отримати повний текст
Стаття -
7
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
Characterization and properties
Technology
design
GUI-SUPREM III
IGBT
Internet
Schottky barriers
education
electrical properties of devices
frequency and static characteristics
high-temperature micro-packaging
integrated circuits
manufacturing process
microelectronics
optimisation
screening experiment
technological operations
technological route
Интернет
барьеры Шоттки
биполярный транзистор с изолированным затвором
высокотемпературный микромонтаж
интегральные микросхемы
информационные технологии
конструкция
микроэлектроника
обучение
оптимизация
отсеивающий эксперимент
проектирование