Hydrogen gettering in annealed oxygen-implanted silicon за авторством Misiuk, A., Barcz, A., Ulyashin, A., Antonova, I.V., Prujszczyk, M.

Отримати повний текст

Defects in high temperature and high pressure processed Si:N revealed by deuterium plasma treatment за авторством Misiuk, A., Barcz, A., Ulyashin, A., Prujszczyk, M., Bak-Misiuk, J., Formanek, P.

Отримати повний текст

Solid state doping of CdxHg₁₋xTe epitaxial layers with elements of V group за авторством Vlasov, A.P., Bonchyk, A.Yu., Fodchuk, I.M., Barcz, A., Swiatek, Z.T., Zaplitnyy, R.A.

Отримати повний текст

Ferromagnetic nanoclusters in Si:Mn and GaMnAs annealed at high temperature–pressure за авторством Bak-Misiuk, J., Romanowski, P., Domagala, J., Misiuk, A., Dynowska, E., Lusakowska, E., Barcz, A., Sadowski, J., Caliebe, W.

Отримати повний текст

Pressure-induced structural transformations in Si:V and Si:V, Mn за авторством Misiuk, A., Barcz, A., Chow, L., Bak-Misiuk, J., Romanowski, P., Shalimov, A., Wnuk, A., Surma, B., Vanfleet, R., Prujszczyk, M.

Отримати повний текст