Харвестер відкритої науки НАН України

Development and experimental studies of methods for increasing the stability of materials of accelerating structures to high vacuum electrical discharges

за авторством Baturin, V.A., Karpenko, A.Yu., Yeryomin, S.A.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (2019)

The effect of a magnetic field on the motion of electrons for the field emission process description

за авторством Lebedynskyi, S.O., Miroshnichenko, V.I., Kholodov, R.I., Baturin, V.A.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (2015)

Thermalization and ionization of metal atoms of operating environment at a metal ion-sputtering source

за авторством Baturin, V.A., Litvinov, P.A., Pustovoitov, S.A., Roenko, O.Yu.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (2021)

Investigation of copper samples with ion-plasma treatment on the high voltage breakdowns

за авторством Baturin, V.A., Karpenko, A.Yu., Storizhko, V.Е., Shutko, V.A.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (2018)

The experimental setup for high voltage breakdown studies in the high vacuum

за авторством Baturin, V.A., Karpenko, O.Yu., Profatilova, Ia.V., Pustovoitov, S.O., Miroshnichenko, V.I.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (2015)

IAP triple-beam facility for simulation studies of radiation damage of materials

за авторством Baturin, V.A., Yeryomin, S.A., Litvinov, P.A., Pustovoitov, S.A., Roenko, O.Yu., Storizhko, V.E.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (2022)

Study of vacuum high-gradient breakdowns from the ion-modified surface of copper electrodes

за авторством Baturin, V.A., Karpenko, A.Yu., Lebedynskyi, S.O., Roenko, O.Yu., Eryomin, S.O., Novak, O.P., Kholodov, R.I.
Опубліковано в: Problems of Atomic Science and Technology (2023)

Effect of electron irradiation on transparent conductive films ZnO:Al deposited at different sputtering power

за авторством Myroniuk, D.V., Ievtushenko, A.I., Lashkarev, G.V., Maslyuk, V.T., Timofeeva, I.I., Baturin, V.A., Karpenko, O.Yu., Kuznetsov, V.M., Dranchuk, M.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2015)