Показ 1 - 1 результатів із 1 для пошуку 'Begun, E.V.', час виконання запиту: 0.00сек. Уточнити результати
  1. 1
    Charge characteristics of the MOS structures with oxide films containing Si nanocrystals
    за авторством Begun, E.V., Bratus’, O.L., Evtukh, A.A., Kaganovich, E.B., Manoilov, E.G.
    Опубліковано 2007
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
Інструменти для пошуку: Отримати RSS-стрічку – Відправити пошук е-поштою