Результати пошуку - Beketov, A.G.
- Показ 1 - 1 результатів із 1
-
1
Separate determination of thickness and optical parameters by surface plasmon resonance: accuracy consideration за авторством Rengevych, O.V., Shirshov, Yu.M., Ushenin, Yu.V, Beketov, A.G.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1999)Отримати повний текст
Стаття