Electron transport through nanocomposite SiO₂(Si) films containing Si nanocrystals за авторством Bratus, O.L., Evtukh, A.A., Steblova, O.V., Prokopchuk, V.M.

Отримати повний текст

Structural properties of nanocomposite SiO₂(Si) films obtained by ion-plasma sputtering and thermal annealing за авторством Bratus, O.L., Evtukh, A.A., Lytvyn, O.S., Voitovych, M.V., Yukhymchuk, V.О.

Отримати повний текст

Charge characteristics of the MOS structures with oxide films containing Si nanocrystals за авторством Begun, E.V., Bratus’, O.L., Evtukh, A.A., Kaganovich, E.B., Manoilov, E.G.

Отримати повний текст