Харвестер відкритої науки НАН України

Evolution of structural and electrophysical parameters of Ni/SiC contacts at rapid thermal annealing

за авторством Litvinov, V.L., Demakov, K.D., Agueev, O.A., Svetlichny, A.M., Konakova, R.V., Lytvyn, P.M., Lytvyn, O.S., Milenin, V.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2002)