Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging за авторством G. V. Beketov

Отримати повний текст

Surface wetting and contact angle: basics and characterisation за авторством G. V. Beketov, O. V. Shynkarenko

Отримати повний текст

Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy за авторством O. V. Rengevych, G. V. Beketov, Yu. V. Ushenin

Отримати повний текст

Trap-assisted conductivity in anodic oxide on InSb за авторством G. V. Beketov, A. V. Sukach, V. V. Tetyorkin, S. P. Trotsenko

Отримати повний текст

Features of ultrasound absorption by dislocations in subgrain-free Cs0.2Hg0.8Te crystals за авторством I. O. Lysiuk, Ya. M. Olikh, Ya. Olikh, G. V. Beketov

Отримати повний текст