Результати пошуку - G. V. Stanchu
- Показ 1 - 2 результатів із 2
-
1
-
2
X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al2O3(0001) substrates за авторством N. V. Safriuk, G. V. Stanchu, A. V. Kuchuk, V. P. Kladko, A. E. Belyaev, V. F. Machulin
Опубліковано 2013Отримати повний текст
Стаття