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Modification of electroluminescence and charge trapping in germanium implanted metal-oxide-silicon light-emitting diodes with plasma treatment von Nazarov, A.N., Skorupa, W., Vovk, Ja.N., Osiyuk, I.N., Tkachenko, A.S., Tyagulskii, I.P., Lysenko, V.S., Gebel, T., Rebohle, L., Yankov, R.A., Nazarova, T.M.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2005)Volltext
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