Харвестер відкритої науки НАН України

Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats

за авторством Zabudsky, V., Golenkov, O., Rikhalsky, O., Reva, V., Korinets, S., Dukhnin, S., Mytiai, R.
Опубліковано в: Технология и конструирование в электронной аппаратуре (2019)

Часи життя носіїв заряду у вузькощілинному Hg1–xCdxTe при міжзонному та внутрішньозонному збудженні

за авторством Staryi, S., Lysjuk, I., Golenkov, O., Tsybrii, Z., Danilov, S., Gumenjuk-Sichevska, J., Andrieieva, K., Smolii, M., Sizov, F.
Опубліковано 2023

Дискретні фотоприймачі середньохвильового ІЧ-діапазону спектру на основі HgCdTe

за авторством Tsybrii, Z. F., Andreeva, K. V., Apatska, M. V., Bunchuk, S. G., Vuichyk, M. V., Golenkov, O. G., Dmytruk, N. V., Zabudsky, V. V., Lysiuk, I. O., Svezhentsova, K. V., Smolii, M. I., Sizov, F. F.
Опубліковано 2017