Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements

за авторством Gomeniuk, Yu.V.
Опубліковано 2012

Морфологія та оптичні властивості нанокластерів Ge на окисленій поверхні Si(001)

за авторством Lysenko, V.S., Kondratenko, S.V., Kozyrev, Yu.N., Rubezhanska, M.Yu., Kladko, V.P., Gomeniuk, Yu.V., Gudymenko, O.Y., Melnichuk, Ye.Ye., Grenet, G., Blanchard, N.B.
Опубліковано 2021

Electroluminescent properties of Tb-doped carbon-enriched silicon oxide

за авторством Tiagulskyi, S.I., Nazarov, A.N., Gordienk, S.O., Vasin, A.V., Rusavsky, A.V., Nazarova, T.M., Gomeniuk, Yu.V., Rudko, G.V., Lysenko, V.S., Rebohle, L., Voelskow, M., Skorupa, W., Koshka, Y.
Опубліковано 2014