Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements за авторством Gomeniuk, Yu.V.

Отримати повний текст

Морфологія та оптичні властивості нанокластерів Ge на окисленій поверхні Si(001) за авторством Lysenko, V.S., Kondratenko, S.V., Kozyrev, Yu.N., Rubezhanska, M.Yu., Kladko, V.P., Gomeniuk, Yu.V., Gudymenko, O.Y., Melnichuk, Ye.Ye., Grenet, G., Blanchard, N.B.

Отримати повний текст

Electroluminescent properties of Tb-doped carbon-enriched silicon oxide за авторством Tiagulskyi, S.I., Nazarov, A.N., Gordienk, S.O., Vasin, A.V., Rusavsky, A.V., Nazarova, T.M., Gomeniuk, Yu.V., Rudko, G.V., Lysenko, V.S., Rebohle, L., Voelskow, M., Skorupa, W., Koshka, Y.

Отримати повний текст