Результати пошуку - Haccart, T.
- Показ 1 - 1 результатів із 1
-
1
Dielectric, ferroelectric and piezoelectric properties of sputtered PZT thin films on Si substrates: influence of film thickness and orientation за авторством Haccart, T., Cattan, E., Remiens, D.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2002)Отримати повний текст
Стаття