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Харвестер відкритої науки НАН України
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Ju. E. Volchkov
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Gamma flaw-detectors for radiographic and radiometric testing of quality of industrial products
von
V. N. Khoroshev
,
Ju. E. Volchkov
,
A. S. Dekopov
,
E. M. Kositsyn
,
Ju. N. Kozin
Veröffentlicht 2011
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