Повышение надежности диодов Шоттки при воздействии разрядов cтатического элек­три­чес­тва

von Sоlоdukha, V. A., Turtsevich, A. S., Solov’yov, J. A., Rubtsevich, I. I., Kerentsev, A. F.
Veröffentlicht 2012

Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром...

von Turtsevich, A. S., Rubtsevich, I. I., Solov’yov, Ya. А., Vas’kov, O. S., Kononenko, V. K., Niss, V. S., Kerentsev, A. F.
Veröffentlicht 2012