Результати пошуку - Klein, M.
- Показ 1 - 1 результатів із 1
-
1
Determination of sp³ fraction in ta-C coating using XPS and Raman spectroscopy за авторством Zavaleyev, V., Walkowicz, J., Sawczak, M., Klein, M., Moszyński, D., Chodun, R., Zdunek, K.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (2016)Отримати повний текст
Стаття