Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром... von Turtsevich, A. S., Rubtsevich, I. I., Solov’yov, Ya. А., Vas’kov, O. S., Kononenko, V. K., Niss, V. S., Kerentsev, A. F.

Volltext