Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors за авторством Vasiliyev, G.P., Kosinov, A.V., Kulibaba, V.I., Maslov, N.I., Naumov, S.V., Ovchinnik, V.D., Yalovenko, V.I.

Отримати повний текст

Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors за авторством Kosinov, A.V., Maslov, N. I., Naumov, S. V., Ovchinni, V. D., Starodubtsev, A. F., Vasilyev, G. P., Yalovenko, V. I., Bosisio, L.

Отримати повний текст

Examination ofmulti-layer silicon detector in measurementofelectron spectrumfor beta-decayof ⁹⁰SR- ⁹⁰Y за авторством Bochek, G.L., Golovash, A.S., Kosinov, A.V., Kotlyar, V.V., Kulibaba, V.I., Maslov, N.I., Mazilov, A.A., Naumov, S.V., Ovchinnik, V.D.

Отримати повний текст