Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors

за авторством Vasiliyev, G.P., Kosinov, A.V., Kulibaba, V.I., Maslov, N.I., Naumov, S.V., Ovchinnik, V.D., Yalovenko, V.I.
Опубліковано 2006

Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors

за авторством Kosinov, A.V., Maslov, N. I., Naumov, S. V., Ovchinni, V. D., Starodubtsev, A. F., Vasilyev, G. P., Yalovenko, V. I., Bosisio, L.
Опубліковано 2006

Examination ofmulti-layer silicon detector in measurementofelectron spectrumfor beta-decayof ⁹⁰SR- ⁹⁰Y

за авторством Bochek, G.L., Golovash, A.S., Kosinov, A.V., Kotlyar, V.V., Kulibaba, V.I., Maslov, N.I., Mazilov, A.A., Naumov, S.V., Ovchinnik, V.D.
Опубліковано 2005