Харвестер відкритої науки НАН України

Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors

von Vasiliyev, G.P., Kosinov, A.V., Kulibaba, V.I., Maslov, N.I., Naumov, S.V., Ovchinnik, V.D., Yalovenko, V.I.
Veröffentlicht in Вопросы атомной науки и техники (2006)

Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors

von Kosinov, A.V., Maslov, N. I., Naumov, S. V., Ovchinni, V. D., Starodubtsev, A. F., Vasilyev, G. P., Yalovenko, V. I., Bosisio, L.
Veröffentlicht in Вопросы атомной науки и техники (2006)

Examination ofmulti-layer silicon detector in measurementofelectron spectrumfor beta-decayof ⁹⁰SR- ⁹⁰Y

von Bochek, G.L., Golovash, A.S., Kosinov, A.V., Kotlyar, V.V., Kulibaba, V.I., Maslov, N.I., Mazilov, A.A., Naumov, S.V., Ovchinnik, V.D.
Veröffentlicht in Вопросы атомной науки и техники (2005)