Харвестер відкритої науки НАН України

Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors

за авторством Vasiliyev, G.P., Kosinov, A.V., Kulibaba, V.I., Maslov, N.I., Naumov, S.V., Ovchinnik, V.D., Yalovenko, V.I.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (2006)

Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors

за авторством Kosinov, A.V., Maslov, N. I., Naumov, S. V., Ovchinni, V. D., Starodubtsev, A. F., Vasilyev, G. P., Yalovenko, V. I., Bosisio, L.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (2006)

Examination ofmulti-layer silicon detector in measurementofelectron spectrumfor beta-decayof ⁹⁰SR- ⁹⁰Y

за авторством Bochek, G.L., Golovash, A.S., Kosinov, A.V., Kotlyar, V.V., Kulibaba, V.I., Maslov, N.I., Mazilov, A.A., Naumov, S.V., Ovchinnik, V.D.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (2005)