Microfluctuations of oxygen impurity concentration as a reason of accelerated oxygen diffusion in silicon за авторством Neimash, V.B., Puzenko, O.O., Kraitchinskii, A.M., Krasko, M.M., Putselyk, S., Claeys, C., Simoen, E.

Отримати повний текст

Вплив γ-опромінення на початкову магнітну проникність аморфних і нанокристалічних сплавів на основі системи Fe−Si−B... за авторством Povarchuk, V.Yu., Nosenko, V.K., Kraitchinskii, A.M., Neimash, V.B., Kras’ko, M.M., Maslov, V.V.

Отримати повний текст

Механізм відпалу VO дефектів в n-Si при високотемпературному імпульсному електронному опроміненні за авторством Kraitchinskii, A.M., Kras’ko, M.M., Kolosiuk, A.G., Petrunya , R.V., Povarchuk, V.Yu., Voitovych, V.V., Neimash, V.B., Makara, V.A., Rudenko, R.M.

Отримати повний текст