Radiation hardness of AlAs/GaAs-based resonant tunneling diodes за авторством Belyaev, A.A., Belyaev, A.E., Konakova, R.V., Vitusevich, S.A., Milenin, V.V., Soloviev, E.A., Kravchenko, L.N., Figielski, T., Wosinski, T., Makosa, A.

Отримати повний текст