Using ellipsometry methods for depth analyzing the optical disc data layer relief structures за авторством Kravets, V.G., Gorbov, I.V.

Отримати повний текст

Luminescence of the pyrazoline dye in nanostructured zeolite matriх за авторством Beliak, I.V., Kravets, V.G., Kryuchin, A.A.

Отримати повний текст

TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films за авторством Kravets, V.G., Poperenko, L.V., Vinnichenko, K.L.

Отримати повний текст

Optical properties of graphene film growing on a thin copper layer за авторством Rozouvan, T.S., Poperenko, L.V., Kravets, V.G., Shaykevich, I.A.

Отримати повний текст

Optical properties of the modified structures of surface layers of amorphous metallic alloy ribbons за авторством Poperenko, L.V., Kravets, V.G., Lysenko, S.I., Vinnichenko, K.L.

Отримати повний текст

Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs за авторством Kravets, V.G., Prorok, V.V., Poperenko, L.V., Shaykevich, I.A.

Отримати повний текст

Optical and magneto-optical properties of thin films for high density information recording за авторством Kravets, V.G., Poperenko, L.V., Yurgelevich, I.V., Petford-Long, A.K.

Отримати повний текст