Результати пошуку - Kruger, D.

  • Показ 1 - 2 результатів із 2
Уточнити результати
  1. 1
    Зображення обкладинки

    AES and XPS characterization of TiN layers formed and modified by ion implantation за авторством Melnik, V., Popov, V., Kruger, D., Oberemok, O.

    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:
  2. 2
    Зображення обкладинки

    Ultrasound effect on radiation damages in boron implanted silicon за авторством Romanjuk, B., Krüger, D., Melnik, V., Popov, V., Olikh, Ya., Soroka, V., Oberemok, O.

    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:

Інструменти для пошуку: