Харвестер відкритої науки НАН України

AES and XPS characterization of TiN layers formed and modified by ion implantation

за авторством Melnik, V., Popov, V., Kruger, D., Oberemok, O.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1999)

Ultrasound effect on radiation damages in boron implanted silicon

за авторством Romanjuk, B., Krüger, D., Melnik, V., Popov, V., Olikh, Ya., Soroka, V., Oberemok, O.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2000)