Результати пошуку - Kryvyi, S.B.
- Показ 1 - 1 результатів із 1
-
1
The effect of ion implantation on structural damage in compositionally graded AlGaN layers за авторством Liubchenko, O.I., Kladko, V.P., Stanchu, H.V., Sabov, T.M., Melnik, V.P., Kryvyi, S.B., Belyaev, A.Ye.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2019)Отримати повний текст
Стаття