Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї за авторством Goriachko, A., Kulyk, S. P., Melnik, P. V., Nakhodkin, M. G.

Отримати повний текст

Study of nanostructured layers of single-crystal silicon by scanning tunnel spectroscopy за авторством Kulyk, S.P., Melnichenko, M.M., Svezhentsova, K.V., Shmyryova, O.M.

Отримати повний текст

Formation of step density shock waves on vicinal NaCl(100) growth surfaces за авторством Kulyk, O.P., Podshyvalova, O.V., Andrieieva, O.L., Tkachenko, V.I., Gnatyuk, V.A., Aoki, T.

Отримати повний текст

Effects of long-term ion bombardment on some optical properties of Rh film mirrors and bulk polycrystalline mirrors за авторством Bondarenko, V.N., Bardamid, A.F., Voitsenya, V.S., Konovalov, V.G., Kulyk, S.P., Solodovchenko, S.I., Yakimov, K.I., Dobrotvorskaya, M.V.

Отримати повний текст