Three-step electronic speckle pattern interferometry method with arbitrary phase shifts of reference wave за авторством L. I. Muravsky

Отримати повний текст

Retrieving the surface relief components using phase-shifting interferometry and Gaussian filter за авторством I. V. Stasyshyn, Y. M. Kotsiuba, L. I. Muravsky, T. I. Voronyak

Отримати повний текст

The new approach to identification of film reflecting holographic marks за авторством S. O. Kostyukevych, L. I. Muravsky, V. M. Fitio, T. I. Voronyak, P. E. Shepeliavyi, K. V. Kostyukevych, N. L. Moskalenko, V. I. Pogoda

Отримати повний текст