Simulation of X-Ray Diffraction Spectra for AlN/GaN Multiple Quantum Well Structures on AlN(0001) with Interface Roughness and Variation of Vertical Layers Thickness за авторством Liubchenko, O.I., Kladko, V.P.

Отримати повний текст

Modeling of X-ray rocking curves for layers after two-stage ion-implantation за авторством Liubchenko, O.I., Kladko, V.P., Gudymenko, O.Yo.

Отримати повний текст

Дослідження пасток в гетероструктурах AlGaN/GaN ультразвуковими коливаннями за авторством Kaliuzhnyi, V.V., Liubchenko, O.I., Tymochko, M.D., Olikh, Y.M., Kladko, V.P., Belyaev, A.E.

Отримати повний текст

The effect of ion implantation on structural damage in compositionally graded AlGaN layers за авторством Liubchenko, O.I., Kladko, V.P., Stanchu, H.V., Sabov, T.M., Melnik, V.P., Kryvyi, S.B., Belyaev, A.Ye.

Отримати повний текст