Simulation of X-Ray Diffraction Spectra for AlN/GaN Multiple Quantum Well Structures on AlN(0001) with Interface Roughness and Variation of Vertical Layers Thickness

за авторством Liubchenko, O.I., Kladko, V.P.
Опубліковано 2018

Дослідження пасток в гетероструктурах AlGaN/GaN ультразвуковими коливаннями

за авторством Kaliuzhnyi, V.V., Liubchenko, O.I., Tymochko, M.D., Olikh, Y.M., Kladko, V.P., Belyaev, A.E.
Опубліковано 2021