Результати пошуку - Makarenko, O.V.
- Показ 1 - 5 результатів із 5
-
1
Плазмонно-резонансні властивості багатошарових структур на основі Au, Cu, Ag та P(VDF-TrFE) за авторством Yampolskyi, A.L., Makarenko, O.V., Zaporoshchenko, D.V.
Опубліковано 2023
Отримати повний текст
Стаття -
2
Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures за авторством Yampolskiy, A.L., Makarenko, O.V., Poperenko, L.V., Lysiuk, V.O.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2018)Отримати повний текст
Стаття -
3
Еліпсометрична діагностика поверхневого шару оптичного скла за авторством Makarenko, O. V., Poperenko, L. V., Zavalistyi, O. I., Yampolskiy, A. L.
Опубліковано 2019
Отримати повний текст
Стаття -
4
Структура окисної плівки на поверхні поруватого кремнію за авторством Zavalistyi, O. I., Makarenko, O. V., Odarych, V. A., Yampolskyi, A. L.
Опубліковано 2020
Отримати повний текст
Стаття -
5
Mueller polarimetry of discontinuous gold films за авторством Makarenko, O.V., Yampolskiy, A.L., Lendiel, V.V., Poperenko, L.V., Lysiuk, V.O.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2019)Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
-
Optics
CIE standard illuminant D65
Fresnel equations
P(VDF-TrFE)
attenuated total reflection
biosensor
color coordinates
color matching functions (CMF)
differential evolution method
ellipsometry
glass
inhomogeneous layer
optical profile
porous silicon
surface plasmon resonance
the CIELAB color space
thin metal films
tunable sensor
бiосенсор
елiпсометрiя
колiрний простiр Lab
координати колiрностi
метод диференцiйної еволюцiї
настроюваний сенсор
неоднорiдний шар
оптичний профiль
поверхневий плазмонний резонанс
поруватий кремнiй
порушене повне внутрiшнє вiдбивання