-
1за авторством Jurikova, A., Miskuf, J., Csach, K., Ocelik, V.Отримати повний текст
Опубліковано в: Проблемы прочности (2008)
Стаття -
2за авторством Miskuf, J., Csach, K., Jurikova, A., Ocelik, V., Bengus, V., Tabachnikova, E.Отримати повний текст
Опубліковано в: Проблемы прочности (2008)
Стаття -
3за авторством Tabachnikova, E.D., Podolskiy, A.V., Smirnov, S.N., Csach, K., Miskuf, J., Saitova, L.R., Semenova, I.P, Valiev, R.Z., Bengus, V.Z.Отримати повний текст
Опубліковано в: Проблемы прочности (2008)
Стаття -
4за авторством Studenyak, I.P., Demko, P.Yu., Bendak, A.V., Kovalchuk, O.V., Kovalchuk, T.M., Lisý, V., Kopčanský, P., Timko, M., Tomašovičová, N., Zavisova, V., Gdovinova, V., Miskuf, J., Oleinikova, I.V., Lad, A.I., Kucheriavchenkova, N.M.Отримати повний текст
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2015)
Стаття -
5за авторством Studenyak, I.P., Demko, P.Yu., Bendak, A.V., Kovalchuk, O.V., Kovalchuk, T.M., Lisý, V., Kopčanský, P., Timko, M., Tomašovičová, N., Zavisova, V., Gdovinova, V., Miskuf, J., Oleinikova, I.V., Lad, A.I., Kucheriavchenkova, N.M.Отримати повний текст
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2015)
Стаття