Determination of fundamental optical constant of Zn2SnO4 films за авторством A. O. Salohub, A. A. Voznyi, O. V. Klymov, N. V. Safryuk, D. I. Kurbatov, A. S. Opanasyuk

Отримати повний текст

X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures за авторством V. P. Kladko, A. V. Kuchuk, N. V. Safryuk, V. F. Machulin, A. E. Belyaev, R. V. Konakova, B. S. Yavich

Отримати повний текст

Features of the formation of ohmic contacts to n+-InN за авторством P. O. Sai, N. V. Safryuk-Romanenko, D. B. But, G. Cywiński, N. S. Boltovets, P. N. Brunkov, N. V. Jmeric, S. V. Ivanov, V. V. Shynkarenko

Отримати повний текст

Features of the formation of ohmic contacts to n+-InN за авторством P. O. Sai, N. V. Safryuk-Romanenko, D. B. But, G. Cywiński, N. S. Boltovets, P. N. Brunkov, N. V. Jmeric, S. V. Ivanov, V. V. Shynkarenko

Отримати повний текст