Результати пошуку - O. Golenkov

  • Показ 1 - 3 результатів із 3
Уточнити результати
  1. 1
    Зображення обкладинки

    Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats за авторством V. Zabudsky, O. Golenkov, O. Rikhalsky, V. Reva, S. Korinets, S. Dukhnin, R. Mytiai

    Опубліковано 2019
    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:
  2. 2
    Зображення обкладинки

    Carrier decay lifetimes in the narrow-gap Hg1 – xCdxTe at the interband and intraband excitations за авторством S. Staryi, I. Lysjuk, O. Golenkov, Z. Tsybrii, S. Danilov, J. Gumenjuk-Sichevska, K. Andrieieva, M. Smolii, F. Sizov

    Опубліковано 2023
    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:
  3. 3
    Зображення обкладинки

    Carrier decay lifetimes in the narrow-gap Hg1 – xCdxTe at the interband and intraband excitations за авторством S. Staryi, I. Lysjuk, O. Golenkov, Z. Tsybrii, S. Danilov, J. Gumenjuk-Sichevska, K. Andrieieva, M. Smolii, F. Sizov

    Опубліковано 2023
    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:

Інструменти для пошуку: