Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats

за авторством V. Zabudsky, O. Golenkov, O. Rikhalsky, V. Reva, S. Korinets, S. Dukhnin, R. Mytiai
Опубліковано 2019

Carrier decay lifetimes in the narrow-gap Hg1 – xCdxTe at the interband and intraband excitations

за авторством S. Staryi, I. Lysjuk, O. Golenkov, Z. Tsybrii, S. Danilov, J. Gumenjuk-Sichevska, K. Andrieieva, M. Smolii, F. Sizov
Опубліковано 2023

Carrier decay lifetimes in the narrow-gap Hg1 – xCdxTe at the interband and intraband excitations

за авторством S. Staryi, I. Lysjuk, O. Golenkov, Z. Tsybrii, S. Danilov, J. Gumenjuk-Sichevska, K. Andrieieva, M. Smolii, F. Sizov
Опубліковано 2023