Результати пошуку - O. O. Yefremov
- Показ 1 - 1 результатів із 1
-
1
Dopant depth profile modification during mass Spectrometric analysis of multilayer nanostructures за авторством O. O. Yefremov, V. H. Lytovchenko, V. P. Melnyk, O. S. Oberemok, V. H. Popov, B. M. Romaniuk
Опубліковано 2015Отримати повний текст
Стаття