Результати пошуку - O. V. Rengevych

  • Показ 1 - 1 результатів із 1
Уточнити результати
  1. 1
    Зображення обкладинки

    Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy за авторством O. V. Rengevych, G. V. Beketov, Yu. V. Ushenin

    Опубліковано 2014
    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:

Інструменти для пошуку: