Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate за авторством Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F., Vuichyk, M.V.

Отримати повний текст

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry за авторством Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Vuichyk, M.V., Sizov, F.F.

Отримати повний текст

Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry за авторством Kornienko, K.N., Odarych, V.A., Poperenko, L.V., Vuichik, N.V.

Отримати повний текст

Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур за авторством Makara, V. A., Odarych, V. A., Kepich, T. Yu., Preobragenskaya, T. D., Rudenko, O. V.

Отримати повний текст

Optical parameters of the film naturally formed on the surface of cadmium telluride single crystals за авторством Odarych, V.A., Poperenko, L.V., Yurgelevych, I.V., Gnatyuk, V.A., Toru Aoki

Отримати повний текст