Suchergebnisse - Odarych, V.A.

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    Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate von Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F., Vuichyk, M.V.

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    Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry von Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Vuichyk, M.V., Sizov, F.F.

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    Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry von Kornienko, K.N., Odarych, V.A., Poperenko, L.V., Vuichik, N.V.

    Veröffentlicht in Functional Materials (2006)
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    Структура окисної плівки на поверхні поруватого кремнію von Zavalistyi, O. I., Makarenko, O. V., Odarych, V. A., Yampolskyi, A. L.

    Veröffentlicht 2020

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    Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур von Makara, V. A., Odarych, V. A., Kepich, T. Yu., Preobragenskaya, T. D., Rudenko, O. V.

    Veröffentlicht 2009
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    Optical parameters of the film naturally formed on the surface of cadmium telluride single crystals von Odarych, V.A., Poperenko, L.V., Yurgelevych, I.V., Gnatyuk, V.A., Toru Aoki

    Veröffentlicht in Functional Materials (2013)
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