Харвестер відкритої науки НАН України

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry

von Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Vuichyk, M.V., Sizov, F.F.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2006)

Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate

von Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F., Vuichyk, M.V.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2005)

Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry

von Kornienko, K.N., Odarych, V.A., Poperenko, L.V., Vuichik, N.V.
Veröffentlicht in Functional Materials (2006)

Структура окисної плівки на поверхні поруватого кремнію

von Zavalistyi, O. I., Makarenko, O. V., Odarych, V. A., Yampolskyi, A. L.
Veröffentlicht 2020

Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур

von Makara, V. A., Odarych, V. A., Kepich, T. Yu., Preobragenskaya, T. D., Rudenko, O. V.
Veröffentlicht 2009

Optical parameters of the film naturally formed on the surface of cadmium telluride single crystals

von Odarych, V.A., Poperenko, L.V., Yurgelevych, I.V., Gnatyuk, V.A., Toru Aoki
Veröffentlicht in Functional Materials (2013)