Показ 1 - 2 результатів із 2 для пошуку 'P. M. Fochuk', час виконання запиту: 0.00сек. Уточнити результати
  1. 1
    Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods
    за авторством S. I. Drapak, S. V. Gavrylyuk, Y. B. Khalavka, V. D. Fotiy, P. M. Fochuk, O. I. Fediv
    Опубліковано 2022
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  2. 2
    Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods
    за авторством S. I. Drapak, S. V. Havryliuk, Yu. B. Khalavka, V. D. Fotii, P. M. Fochuk, O. I. Fediv
    Опубліковано 2022
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
Інструменти для пошуку: Отримати RSS-стрічку – Відправити пошук е-поштою